在長期與用戶接觸中，經(jīng)常遇到用戶對于高溫烤箱與高溫老化房（燒機房）等指標近似作用界限模糊的設(shè)備分不清的情況，在此做一個較系統(tǒng)的說明。
高溫烤箱用于試驗樣品做高溫適應性試驗及高溫應力試驗，也可當干燥箱用，但由于指標差異大，干燥箱不能替代高溫試驗箱。
高溫老化房一般用于產(chǎn)品出廠前的老練篩選，挑除前期失效工件。多用于電工電子產(chǎn)品。
高溫烤箱現(xiàn)行執(zhí)行標準GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
高溫老化房沒有的產(chǎn)品標準，一般參照GB/T11158-2008《高溫烤箱技術(shù)條件》執(zhí)行
二、指標的異同
高溫烤箱
溫度波動度：≤1℃
溫度梯度：≤2℃
溫度偏差：±2℃
高溫老化房
由于老化房沒有產(chǎn)品標準，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗箱指標：
溫度波動度：≤1℃
溫度均勻度：≤2℃（按GB/T11158-98的指標）
溫度偏差：±2℃
換氣量：可調(diào)
三、結(jié)構(gòu)
由于高溫烤箱溫場要求較高，一般采用層流設(shè)計。
高溫老化房一般要考慮試品架或試品車的情況。
